射線探傷儀是利用射線穿過物體時(shí)物體局部區(qū)域結(jié)構(gòu)差異從而改變物體對(duì)射線的衰減，然后檢測(cè)透射射線強(qiáng)度，判斷物體內(nèi)部的缺陷和物質(zhì)分布的儀器  。射線探傷儀器主要分為X射線探傷儀和γ射線探傷儀兩種，廣泛應(yīng)用于工業(yè)判斷工件合格與否。詞條 詳細(xì)介紹了兩種探傷儀的工作原理、組成與分類等。